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一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀采用工業(yè)化設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)單，可在幾秒鐘內(nèi)完成全自動(dòng)測(cè)量和分析，并輸出分析報(bào)告。是用于薄膜測(cè)量和器件質(zhì)量控制的解決方案。
多波長(zhǎng)橢偏儀采用壽命長(zhǎng) LED 光源和非移動(dòng) 式部件橢偏探測(cè)器，可在操作簡(jiǎn)單的緊湊型橢偏儀中實(shí)現(xiàn)可靠地薄膜測(cè)量。大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡(jiǎn)單的 1 秒測(cè)量，就可以獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。還可以測(cè)量大多數(shù)樣品的光學(xué)常數(shù)和其他薄膜特性。
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Lumina AT1薄膜缺陷檢測(cè)儀實(shí)現(xiàn)亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應(yīng)力點(diǎn)和其他缺陷的全表面掃描和成像。實(shí)用于透明、硅、化合物半導(dǎo)體和金屬基底。
甲烷非甲烷總烴檢測(cè)儀是一種甲烷非甲烷總烴分析儀，除了具有基于常規(guī)色譜儀的分離和測(cè)量系統(tǒng)外，AR2300-710F甲烷非甲烷總烴分析儀提供了靈活的觸摸屏式操作軟件、自動(dòng)校準(zhǔn)和測(cè)量功能。
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